Theo thông lệ, các hãng công nghệ đều gửi sản phẩm pin của mình ra nước ngoài hay phòng thí nghiệm của bên thứ ba để kiểm tra chất lượng sản phẩm trước khi đưa vào quy trình sản xuất hàng loạt.

Tuy nhiên, The Wall Street Journal cho biết: 

Phía Samsung đã xác nhận thông tin trên và cho biết hoạt động kiểm tra sản phẩm nội bộ kể từ tháng 2/2009. Và điều này có nghĩa là, Samsung phải chịu trách nhiệm hoàn toàn vì việc không phát hiện ra lỗi pin của Note 7 ở cả hai phiên bản đầu và thay thế mới đồng thời đây là một sai lầm lớn của hãng này.

"Phòng thí nghiệm của Samsung đã không phát hiện bất kỳ vấn đề nào với cả hai phiên bản điện thoại ban đầu hoặc thay thế," một phát ngôn viên của Samsung nói với The Wall Street Journal.

Theo Samsung, pin điện thoại được hãng này kiểm tra qua hai bài kiểm tra: kiểm tra riêng với pin và pin được lắp vào thiết bị.

Các quá trình kiểm tra này tập trung vào kiểm tra trạng thái pin trong khi sạc hoặc trong khi gọi điện thoại. Các sản phẩm pin cũng được đặt trong nhiệt độ cao mô phỏng nhiệt độ mùa Hè và kiểm tra các nguy cơ dẫn đến quá nhiệt.

Note 7 ra mắt ngày 19/8, chỉ vài tuần trước khi đối thủ Apple tung ra iPhone 7. Nhưng chỉ đến đầu tháng 9, hãng đã buộc phải thu hồi các sản phẩm điện thoại này do xảy ra một loạt các sự cố quá nhiệt hoặc cháy nổ pin điện thoại.

Giám đốc công nghệ của CTIA Tom Sawanobori cho biết: "Chúng tôi đã xác nhận hơn 1.500 sản phẩm pin. Đây là lần đầu tiên chúng tôi gặp phải một vấn đề như vậy".

Trong khi đó, Apple và Lenovo thường gửi các mẫu sản phẩm thử nghiệm đến các phòng thử nghiệm của bên thứ ba. Trong khi đó, LG thử nghiệm pin ở nước ngoài và Huawei kiểm tra cả ở nội bộ lẫn bên ngoài.