Tuy nhiên, có vẻ như dư luận đã có được phần nào câu trả lời. Đáng nói là nó đến từ... một tên tuổi khác bên ngoài.

Cụ thể, Instrumental – nhà thầu của bên thứ 3 chuyên hỗ trợ các công ty phần cứng tìm và khắc phục các sự cố liên quan đến tay nghề của công nhân, chất lượng các linh kiện, thiết kế sản phẩm và quy trình sản xuất… vừa công bố kết quả điều tra riêng của mình về vụ nổ pin trên Note 7. Theo Instrumental, nguyên nhân của sự cố là do thiết kế linh hoạt trên chiếc flagship này khiến nó không phù hợp với các dòng pin thay thế mà Samsung cung cấp.

Cũng theo phát hiện của công ty này, thiết kế của Note 7 có thể nén lên viên pin ngay cả trong hoạt động bình thường.

Rõ ràng, các kỹ sư của Samsung đã thiết kế ra một viên pin không đủ độ dày, nên dễ bị tác động bởi các bộ phận khác bên trong thiết bị. Có thể thấy, nguyên nhân sâu xa chính là việc các nhà sản xuất smartphone không ngừng phát triển các dòng thiết bị màn hình lớn hơn, vi xử lý nhanh hơn và mỏng nhẹ hơn mà lại muốn pin mạnh mẽ hơn, đây cũng là lý do khiến các thiết bị điện thoại thông minh hiện nay rất dễ cháy nổ.

Mặc dù, Samsung đã cố gắng cân bằng những rủi ro trong quá trình sản xuất nhằm phát huy tối đa công suất của pin, trong khi vẫn nỗ lực ngầm để lắp đặt trên thiết bị, nhưng giải pháp này của Samsung đã thất bại.

Bên cạnh đó, còn một nguyên nhân nữa dẫn đến khả năng nổ pin trên thiết bị, đó là trong một số trường hợp việc thử nghiệm pin có thể mất đến cả năm trời với hàng nghìn khâu kiểm tra nghiêm ngặt khác, trong khi Samsung đã không có đủ thời gian để thực hiện các thử nghiệm thích hợp trên các phiên bản pin mới.

Và cuối cùng, như chúng ta đã biết, Samsung trang bị một viên pin mỏng hơn cho Galaxy Note 7 để có được thiết kế bắt mắt, nhưng tuổi thọ pin trên thiết bị này lại kém hơn so với người tiền nhiệm Galaxy Note 5, cũng như iPhone 7 Plus của Apple.